非接觸式金屬膜厚測量儀是一種常見的表面分析儀器，其原理基于光學(xué)干涉或者電磁感應(yīng)等技術(shù)。相比于傳統(tǒng)的劃痕法和化學(xué)分析法，非接觸式金屬膜厚測量儀具有高精度、快速和不破壞測試樣品等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工程、光學(xué)制造等領(lǐng)域。
原理是利用光學(xué)干涉原理或電磁感應(yīng)原理來測定薄膜的厚度。其中，光學(xué)干涉法是通過反射光線之間的干涉來測量薄膜的厚度，而電磁感應(yīng)法則是依靠磁場的變化來檢測薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測量薄膜對光線或磁場的影響上，通過實時監(jiān)測信號變化來計算出薄膜的厚度。
非接觸式金屬膜厚測量儀的應(yīng)用范圍很廣。在材料科學(xué)領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用于表面處理和涂層技術(shù)中，可以測量金屬、半導(dǎo)體和絕緣體等各種材料的薄膜厚度。在電子工程領(lǐng)域可以用于制造集成電路和半導(dǎo)體器件等。在光學(xué)制造行業(yè)則可以用于檢測光學(xué)薄膜的厚度和光學(xué)性能。
總之，非接觸式金屬膜厚測量儀是一種重要的表面分析儀器，具有廣泛的應(yīng)用前景。它不僅可以提高產(chǎn)品質(zhì)量，還可以節(jié)約成本和時間，因此在工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究中得到了廣泛的應(yīng)用。
上海市徐匯區(qū)虹梅路2007號6號樓3樓
info@auniontech.com
